【高精度LIPタイプ】
コプラナリティ測定!
コネクタ、面実装部品に対応。高速と高精度のコプラナリティ測定を実現。
小型化 ファインピッチ化する面実装型コネクタやBGAにおいて、・最も重要視される端子の平坦度(コプラナリティ)を、ガラス基準面方式により、高精度 高速測定でかつ容易に多種類のコネクタを測定することができます。
従来、不安定であった対象物の違いによる測定誤差を、特別なレーザセンサを利用することで解消しています。
自動測定モードによる平坦度の解析や、自動測定モードによる合否判定ができ、ともに測定データは、自動的にCSV保存や検査シートに登録することが可能です。
ガラス基準面方式
特殊ガラスにコネクタを設置し、下面よりレーザ測定することで、ガラス面を基準とした実装状態に最も近い、正確な端子の平坦度(コプラナリティ)が測定可能です。
高精度 高速測定
JEITA規格に基づいた測定結果が取得できます。
コネクタの端子の平坦度を約5μmの精度で測定可能です。
光学顕微鏡による測定と比較して、検査時間を1/3∼1/50に短縮することが可能です。
樹脂の色や端子のメッキ種類など、対象物に影響されず安定した測定が可能です。
測定ピンは1列最大100ピンまで、列は最大50列まで測定が可能です。